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面向工业质控与科研检测的理学ZSX Primus系列WDXRF方案

点击次数:4更新时间:2026-10-30

波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)凭借分析速度快、精度高、操作简便等优势,已成为工业过程控制与科研检测中元素分析的重要工具。日本理学(RIGAKU)的ZSX Primus系列是该领域的代表性产品,其中ZSX Primus III NEXT与ZSX Primus IV在结构设计上各有侧重,共同覆盖从常规质控到研究的多种需求。


ZSX Primus IV为顺序扫描型X射线荧光光谱仪,适用于固体、液体、粉末、合金以及薄膜上的元素分析,可快速定量测出从铍(Be)到铀(U)的元素。ZSX Primus III NEXT则为波长色散型X射线荧光光谱仪,可快速定量测定从Be到锔(Cm)的元素,采用理学独特的光路结构,更适用于工业质量控制。


两款仪器均体现了理学在硬件上的多项积累。其一是30微米超薄窗光管,与Canon Electron Tubes & Devices共同开发,较以往75微米窗光管信号强度提升约40%,有效增强轻元素检测能力。其二是X光管上照射方式,样品位于光管下方,从根本上避免粉尘对光管铍窗膜的污染,更适合冶金、水泥、矿石等易产生粉尘的场景。其三是高灵敏度分光晶体,如用于硼元素的新型人工多层膜晶体RX85,灵敏度较以往提高约30%;新型弯晶PET、Ge对铝、硅、磷、硫的分析灵敏度也提升约30%。


面向工业质控与科研检测的理学ZSX Primus系列WDXRF方案

ZSX Primus III NEXT


在易用性方面,ZSX Primus III NEXT标配R-θ可移动样品台,可对任意位置的小样品进行精准定位与面分布(MAPPING)分析;支持12、24、36、48和96位自动进样器,适配大批量样品的连续测试。软件层面,仪器可自动建立工作曲线,配合全新SQX无标样分析软件,约1分钟即可完成全元素扫描分析;可选散射线基本参数法(FP法),进一步提升复杂基体的分析准确度;还可选自动化操作软件、接入智能化实验室,实现无人值守分析。


在应用层面,该系列可广泛用于钢铁、水泥、矿石、环保等行业的元素定量分析,为从原料到成品的质量把控提供数据支撑。综合来看,ZSX Primus系列以稳定的硬件平台与成熟的软件体系,为元素定量分析提供了较完整的解决方案。


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[本文素材转载自佛山翁开尔]


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